QUESTIONS TYPIQUES QUE NOUS RÉPONDONS:
- Quel est le vrai coût?
- Quels sont les principaux inducteurs de coûts?
- Quel est le compromis entre coût et risque?
- Comment puis-je réduire les coûts?
- Quel est le rapport risques / avantages pour un nouveau projet ou produit?
- Quel est le retour sur investissement (ROI) attendu?
- Comment les risques d'un projet impactent-ils les coûts et le retour sur investissement?
EXEMPLE DE PROJETS DE CONSULTATION:
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| Description du projet | Description de l'entreprise | Avantages | Liens |
| Gérer / exécuter le programme MANTECH de l'Air Force | Entrepreneur de défense | Réduisez le coût des principaux produits ECM | |
| Consolider / simplifier la conception des produits | Electronique de défense | Réduisez le nombre de pièces et d'options, ainsi que les coûts | |
| Mise en œuvre de l'analyse du coût de possession pour l'industrie de l'assemblage électronique. Adaptation de la méthodologie du coût de possession des équipements d'assemblage électronique | Fabricant d'équipement d'assemblage électronique | Comprendre le vrai coût de fabrication | ACM juin 1999, p.9 |
| Analyse des coûts de la combinaison du système de test et de la sonde de plaquette | Fournisseur d'équipement | COO combiné | |
| Analyse des coûts de l'outil d'aide à la fabrication 300mm | Fournisseur d'équipement | COO | |
| Analyse intégrée du coût de possession d'un nouvel équipement d'inspection métrologique et de son impact tout au long du processus de fabrication | Fournisseur d'équipement | Impact des performances de l'équipement sur la production | ACM Mar 1999, p. 1 |
| Examiner et évaluer les conceptions d'équipement pour la qualité, la fiabilité, la sécurité, la fabrication et la maintenabilité | Fournisseur d'équipement | Fiabilité et sécurité de qualité supérieure; meilleure maintenabilité et fabricabilité; COO inférieur | Lien vers le livre recommandé «Hi-tech Reliability» |
| Prédictions de fiabilité | Fournisseur d'équipement | Fiabilité supérieure; COO inférieur | |
| Test de fiabilité, planification et analyse des résultats | Fournisseur d'équipement | Fiabilité supérieure; COO inférieur | |
| Impact de l'analyse des coûts du temps de test de production sur le coût de possession, le bon débit de plaquette et l'OEE | Fournisseur d'équipement | COO inférieur du temps de test | |
| Création de modèles de calcul des coûts des produits pour trois technologies différentes de fabrication d'écrans plats | Fabricant de FPD | Avantage stratégique | |
| Prévision des impacts d'une nouvelle technologie sur le coût et la rentabilité d'une fabrique de wafers semi-conducteurs | Organisation de recherche et développement | Valider la R&D continue, établir la stratégie marketing | ACM Sep 2001, p.5 |
| Analyse du coût de possession comparant l'équipement pour un nouveau processus de porte | Fabrication de semi-conducteurs | Équipement avec COO inférieur | |
| Analyse du coût de possession comparant de nouveaux processus et matériaux sur la photolithographie | Fabrication de semi-conducteurs | Justification du surcoût entraînant une baisse des COO | ACM Fall 2005, p. 1 |
| Évaluation intégrée de la chaîne d'approvisionnement des structures de coûts pour la commercialisation du processus ChipSeal à partir d'applications militaires | Fournisseur de matériaux semi-conducteurs | Analyse combinée des coûts | |
| Analyse financière de comparaison pour comprendre l'impact sur les coûts de processus des matériaux diélectriques intercouches | Fournisseur de matériaux semi-conducteurs | Coût moindre | |
| Évaluation du coût de possession pour les nouveaux processus CVD et CMP | Fournisseur de matériaux semi-conducteurs | Coût moindre | |
| Évaluation d'un matériau de passivation et d'une technologie de processus pour l'impact global du coût du produit sur la fabrication des semi-conducteurs et l'assemblage final | Fournisseur de matériaux semi-conducteurs | Coût moindre | |
| Analyse financière de comparaison pour comprendre les impacts des coûts de processus des méthodes de planarisation | Fournisseur de matériaux semi-conducteurs | Optimisation | ACM Sep 1999, p.10 Pilotes CMP |